儀器中文名稱 :標準型原子力顯微鏡

儀器英文名稱 : Atomic Force Microscope

儀器英文簡稱 : AFM

儀器設備說明 :

˙購置時間：101年11月

˙開放服務：109年11月

˙放置地點：工程一館145實驗室(E1-145 Lab)

˙廠牌型號：Bruker Dimension ICON

˙規格:

1.影像掃描解析度：1nm

2.掃描範圍：90 × 90 × 10μm

3.樣品載台：最大直徑210mm，厚度15mm

4.抗震外殼：主機外殼含氣浮式隔音防震平台

服務項目：

˙表面形貌及相圖(TappingMode、ScanAsyst Mode、Contact Mode)

樣本製備要求：

˙應先清洗或封裝以免造成污染，若有不合規定之試片，恕不服務。

˙樣品為粉末或有鬆動及脫落的情形，恕不服務。

˙樣品品質應自行處理完善，若因樣品問題而無法完成檢測，使用者需自負。

˙樣品限制

1.最大試片尺寸：200 mm × 200 mm，厚度< 10 mm

2.最大平面掃描範圍：90μm × 90μm

3.表面形貌最大高度落差或粗糙度< 5μm

4.禁止量測揮發性及腐蝕性樣品

5.操作環境：大氣

收費標準：

開放服務對象：校內

申請服務方式及注意事項：

˙一般型機台目前以開放校內自行操作為主，委託服務請至進階型原子力顯微鏡瞭解。

注意事項

˙可自備符合機台使用之探針規格，或現場購買。

˙探針規格可參考布魯克官網訊息: https://www.brukerafmprobes.com/c-15-probes.aspx

˙數據存取可自備光碟或現場購買。

˙收費方式

1.自行操作以實際使用時數計費。

2.探針為耗材，可自備符合之探針規格，或現場購買一般標準探針且費用另收。

聯絡資訊：

˙儀器負責教授: 邱智瑋 教授

TEL: (02)2737-6521

E-Mail: cwchiu@mail.ntust.edu.tw

˙儀器負責技術員: 洪嘉彬 先生

TEL: (02)2733-3141#6540、#3685

E-Mail: cbhung@mail.ntust.edu.tw