標準型原子力顯微鏡(AFM)

 

儀器中文名稱 :標準原子力顯微鏡

儀器英文名稱 : Atomic Force Microscope

儀器英文簡稱 : AFM

儀器設備說明 :

˙購置時間:10111

˙開放服務10911

˙放置地點:工程一館145實驗室(E1-145 Lab)

˙廠牌型號:Bruker Dimension ICON

˙規格:

1.影像掃描解析度:1nm

2.掃描範圍:90 × 90 × 10μm

3.樣品載台:最大直徑210mm,厚度15mm

4.抗震外殼:主機外殼含氣浮式隔音防震平台

服務項目:

˙表面形貌及相圖(TappingMode、ScanAsyst Mode、Contact Mode)

樣本製備要求:

˙應先清洗或封裝以免造成污染,若有不合規定之試片,恕不服務。

˙樣品為粉末或有鬆動及脫落的情形,恕不服務。

˙樣品品質應自行處理完善,若因樣品問題而無法完成檢測,使用者需自負。

˙樣品限制

1.最大試片尺寸:200 mm × 200 mm,厚度< 10 mm

2.最大平面掃描範圍:90μm × 90μm

3.表面形貌最大高度落差或粗糙度< 5μm

4.禁止量測揮發性及腐蝕性樣品

5.操作環境:大氣

收費標準:

開放服務對象:校內

申請服務方式及注意事項:

˙一般型機台目前以開放校內自行操作為主,委託服務請至進階型原子力顯微鏡瞭解。

注意事項

˙可自備符合機台使用之探針規格,或現場購買。

˙探針規格可參考布魯克官網訊息: https://www.brukerafmprobes.com/c-15-probes.aspx

˙數據存取可自備光碟或現場購買。

˙收費方式

1.自行操作以實際使用時數計費。

2.探針為耗材,可自備符合之探針規格,或現場購買一般標準探針且費用另收。

聯絡資訊:

˙儀器負責教授: 邱智瑋 教授

TEL: (02)2737-6521

E-Mail: cwchiu@mail.ntust.edu.tw

˙儀器負責技術員: 洪嘉彬 先生

TEL: (02)2733-3141#6540#3685

E-Mail: cbhung@mail.ntust.edu.tw