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高解析度場發射掃描式電子顯微鏡 (FESEM-6500F)

 

6500

儀器中文名稱:高解析度場發射掃描式電子顯微鏡 6500F

儀器英文名稱:Field Emission Scanning Electron Microscope 6500F

儀器英文簡稱:FESEM-6500F

儀器設備說明:

 

˙購置時間:91 年

˙放置地點:工程一館 120 實驗室(E1-120 Lab)

˙廠牌型號:JEOL 6500F

˙規格:

 (1)加速電壓:0-30 KV

(2)解析度(SEI):高解析影像條件1.5nm(15KV)

(3)放大倍率:10x~500

(4)影像輸出:燒錄數位影像紀錄

(5)能量分散光譜儀(EDS oxford):元素偵測範圍:B~U(原子序5~92),解析度:133eV

樣本製備要求:

˙不接受揮發性物質,有機物質.有毒物質.未固化之粉末試樣。

˙禁用磁性粉末材料。

˙SEI 及 EDS 試片尺寸:直徑 25mm,高度 5mm;EBSP 試片尺寸:直徑 10mm,高度 2mm。

˙樣品保持清潔及乾燥,油汙及腐蝕液須清洗乾淨並烘乾。

收費標準:

開放服務對象:校內、校外學術單位及產業界

聯絡資訊:

˙儀器負責教授: 蔡孟霖 教授

TEL:(02)2737-6537

E-mail: mltsai@gapps.ntust.edu.tw

˙儀器負責技術員: 廖勝權 先生

TEL:(02)2733-3141#6435/#7375/#3793

E-mail: sclaiw@mail.ntust.edu.tw

 

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