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高解析度場發射掃描式電子顯微鏡 (FESEM-6500F)

最後更新日期 : 2026-09-18

 

6500

儀器中文名稱:高解析度場發射掃描式電子顯微鏡 6500F

儀器英文名稱:Field Emission Scanning Electron Microscope 6500F

儀器英文簡稱:FESEM-6500F

儀器設備說明:

 

  • 購置時間:91 年
  • 放置地點:工程一館 120 實驗室(E1-120 Lab)
  • 廠牌型號:JEOL 6500F
  • 規格:

 (1)加速電壓:0-30 KV

(2)解析度(SEI):高解析影像條件1.5nm(15KV)

(3)放大倍率:10x~500

(4)影像輸出:燒錄數位影像紀錄

(5)能量分散光譜儀(EDS oxford):元素偵測範圍:B~U(原子序5~92),解析度:133eV

樣本製備要求:

  • 不接受揮發性物質,有機物質.有毒物質.未固化之粉末試樣。
  • 禁用磁性粉末材料。
  • SEI 及 EDS 試片尺寸:直徑 25mm,高度 5mm;EBSP 試片尺寸:直徑 10mm,高度 2mm。
  • 樣品保持清潔及乾燥,油汙及腐蝕液須清洗乾淨並烘乾。

收費標準:

  • 時段收費(使用國科會計畫預約):

   1時段/3小時預約:基本費900元,每一時段以3小時計,未滿者亦以一時段計費。

  • 分析收費:

​​​​​​​   EDS:半定量分析每件樣品加收30元。

  • 非國科會時段採計時收費:校內每小時現金300元、校外每小時現金1,200元。

開放服務對象:校內、校外學術單位及產業界

每月 16 日上午 10 點起,國科會基礎研究核心設施預約服務管理系統將開放次月時段預約。
線上預約網址:
https://vir.nstc.gov.tw/

聯絡資訊:

   電話:02-2737-6532

   信箱:yshsiao@mail.ntust.edu.tw

  • 儀器負責技術員: 廖勝權 先生

   TEL:(02)2733-3141#6435/#7375

   E-mail: sclaiw@mail.ntust.edu.tw

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