高解析度場發射掃描式電子顯微鏡 (FESEM-6500F)
最後更新日期 :
2026-09-18

儀器中文名稱:高解析度場發射掃描式電子顯微鏡 6500F
儀器英文名稱:Field Emission Scanning Electron Microscope 6500F
儀器英文簡稱:FESEM-6500F
儀器設備說明:
- 購置時間:91 年
- 放置地點:工程一館 120 實驗室(E1-120 Lab)
- 廠牌型號:JEOL 6500F
- 規格:
(1)加速電壓:0-30 KV
(2)解析度(SEI):高解析影像條件1.5nm(15KV)
(3)放大倍率:10x~500
(4)影像輸出:燒錄數位影像紀錄
(5)能量分散光譜儀(EDS oxford):元素偵測範圍:B~U(原子序5~92),解析度:133eV
樣本製備要求:
- 不接受揮發性物質,有機物質.有毒物質.未固化之粉末試樣。
- 禁用磁性粉末材料。
- SEI 及 EDS 試片尺寸:直徑 25mm,高度 5mm;EBSP 試片尺寸:直徑 10mm,高度 2mm。
- 樣品保持清潔及乾燥,油汙及腐蝕液須清洗乾淨並烘乾。
收費標準:
- 時段收費(使用國科會計畫預約):
1時段/3小時預約:基本費900元,每一時段以3小時計,未滿者亦以一時段計費。
- 分析收費:
EDS:半定量分析每件樣品加收30元。
- 非國科會時段採計時收費:校內每小時現金300元、校外每小時現金1,200元。
開放服務對象:校內、校外學術單位及產業界
每月 16 日上午 10 點起,國科會基礎研究核心設施預約服務管理系統將開放次月時段預約。
線上預約網址:https://vir.nstc.gov.tw/
聯絡資訊:
- 儀器負責教授:蕭育生 教授
電話:02-2737-6532
信箱:yshsiao@mail.ntust.edu.tw
- 儀器負責技術員: 廖勝權 先生
TEL:(02)2733-3141#6435/#7375
E-mail: sclaiw@mail.ntust.edu.tw
