儀器中文名稱 : 第一代D2 PHASER 粉末X 光繞射儀

儀器英文名稱 : D2 PHASER X-ray Powder Diffractometer

儀器英文簡稱 : D2 XRD

儀器設備說明 :

˙購置時間：99年8月

˙開放服務：100年1月

˙放置地點：工程一館237實驗室(E1-237 Lab)

˙廠牌型號：Bruker D2 PHASER XRD

˙規格:

1.X-ray光源：陽極銅靶(Cu Kαλ= 0.154060 nm)、300W高壓電源供應器。

2.測角儀系統：垂直式θ-θ架構

(1)作動範圍(^o): -3~160

(2)最小間距(^o): 0.002

(3)停留時間範圍(s): 0.025~86400

3.偵測器：Lynxeye一維線偵測器

服務項目：

˙粉末、塊材、薄膜之一般繞射分析。

(備註:以上分析僅提供圖譜數據，不提供組成鑑定服務)

樣本製備要求：

˙粉末樣品顆粒小於300 mesh或50μm（壓平無顆粒感）較佳，重量至少大於50mg，多準備更佳。

˙塊材試片不大於3.5Î3.5cm，但不得低於1.0cmÎ1.0cm（試片越大越好），高度不高於0.4cm，且量測表面須粗糙建議應拋光。

˙若單純為薄膜態樣，試片表面應平坦，且大於約為3cmÎ3cm以利裁切及固定。

˙委託者須對試片結構瞭解，包括基材、薄膜厚度、成分、2θ繞射主峰角度等。

˙不接受具揮發性與毒性之試樣。

˙實驗前，請先瞭解相關設定參數如下，以估算預約時數。

1.【掃瞄範圍】請先上網使用關鍵字搜尋與材料相關之XRD圖譜可大約知道範圍，若是未知樣品，建議掃描全圖譜，即2θ範圍20-80(正負10度)。

2.【掃描間距】即偵測器所偵測每點之角度間距，一般使用 0.02 - 0.05 度(將視峰形再調整)，若樣品繞射峰所佔2theta 角度大 (>2 度)，建議使用間距 0.05 度。

3.【每點掃描時間】以一般廣角量測時間10分鐘、間距0.02度來估算，每點掃描時間＝10min×60s÷(80-20)÷0.02＝0.2s 〔備註:每點掃描時間越長，圖譜品質較佳〕

4.【每樣品所需時間估算】以上述為例，除了10mins為基本量測時間，須再預留10mins之參數測試、更換樣品，計約20mins。

  (備註:實際所需量測時間，仍將依當天量測情形而定)

收費標準：

開放服務對象：校內、校外學術單位及產業界

聯絡資訊：

˙儀器負責教授: 周賢鎧  教授

TEL: (02)2737-6665

E-Mail: sjou@mail.ntust.edu.tw

˙儀器負責技術員: 洪嘉彬先生

TEL: (02)2733-3141#6540、#3685

E-Mail: cbhung@mail.ntust.edu.tw