儀器中文名稱:場發射掃描/穿透式電子顯微鏡
儀器英文名稱:Field Emission Scanning/ Transmission Electron Microscope
儀器英文簡稱:FES/TEM
儀器設備說明:
(1)加速電壓:200 KV
(2)TEM分辨率:0.12nm
(3)STEM HAADF分辨率:0.16 nm
(4)Super-X EDS 系統: 對稱設計的4個SDD,無窗式
(5)快速 EDS 收集成像: 像素停留時間10 µs
(6)EDX 立体角:0.9 srad
(7)camara length:12–5700 mm
(8)双傾斜試片座的最大傾斜角度:±30˚
(9)STEM Detector:BF、DF2、DF4、HAADF
服務項目:
針對不同類型材料,提供高解析度的影像觀察及微區繞射分析,也可進行樣品不同維度的影像及成分分析,並獲得樣品升溫反應資訊。
樣本製備要求:
為減少儀器不必要的污染,本中心對試片種類及試片製備上有以下規定,未符合規定者,本單位有權拒絕受理。
若有需要使用NanoEx-i/v 加熱載座者,需提供高於100度的分析溫度之TGA與DSC數據,以便觀察樣品升溫分析時的變化。
收費標準:(依使用狀況調整)
開放服務對象:校內、校外學術單位及產業界
聯絡資訊: