場發射穿透式電子顯微鏡 (FE-TEM)

FETTEM

儀器中文名稱：場發射穿透式電子顯微鏡

儀器英文名稱：Field Emission Gun Transmission Electron Microscope

儀器英文簡稱：FE-TEM

儀器設備說明：

服務項目：

針對不同類型的材料，提供高解析度的影像觀察及微區繞射分析。此外，也可進行樣品成分分析。

微結構觀察: 明視野、暗視野影像分析；高解析影像分析。
電子繞射分析。
元素定點定性及半定量成分分析。
EDS搭配STEM的HAADF偵測器同步獲取影像和光譜訊號可進行光譜元素全畫面(full frame)、選區(selected area)和線掃描(line scan)等掃描分析模式；本機台目前此分析功能，偶會受環境因素影響，使電子束不穩而有無法正常分析的情形，因非屬常態，故本情形僅提供擬預約使用時之參考，仍需視使用當日電子束穩定情況而定。

樣本製備要求：

為減少儀器不必要的污染，本中心對試片種類及試片製備上有以下規定，未符合規定者，本單位有權拒絕受理。

首次預約者，請於預約前，先聯絡儀器負責技術人員，詳細填寫【EM0000017504】(場發射槍穿透式電子顯微鏡FE-TEM)儀器預約相關注意事項與樣品檢測申請表，並回傳再預約，違反者取消當日預約。
粉末樣品(奈米材料): 粉末樣品或奈米材料滴在鍍碳銅網上後，請務必於80℃以上之溫度，烘乾24小時以上，並於乾燥箱或真空狀態下保存。若試片放入機台後，機台真空度變差(真空讀值高於標準值Gun= 1，Column = 6，Camera < 30)，則實驗中止，樣品立即退出。
具磁性的樣品禁用本機台。磁性判斷請洽技術員、樣品替代製備方式(粉末樣品適用冷凍切薄機(Ultramicrotome)而塊材與薄膜樣品適用場發射雙束型聚焦離子束顯微鏡(FIB))。
高分子樣品裂解溫度需達350℃以上，需附上樣品之TGA分析數據。若試片放入機台後，機台真空度變差(真空讀值高於標準值Gun = 1， Column = 6，Camera < 25)，則實驗中止，樣品立即退出。

收費標準：(依使用狀況調整)

開放服務對象:校內、校外學術單位及產業界。

儀器委託操作申請服務辦法

1.每月25日上午9點至國科會基礎研究核心設施預約服務管理系統，預約下一個月時段。

2. 取消預約請於5天前系統自行取消；否則酌收儀器時段基本費。

聯絡資訊：