穿透式電子顯微鏡（FEI Tecnai™ G2 F-20 S-TWIN FEG-TEM）

機台訓練課程公告

為協助本校研究生妥善運用本儀器設備，獲得最佳研究成果，穿透式電子顯微鏡室擬每學期開設一梯次的FEI Tecnai™ G2 F-20 S-TWIN FEG-TEM機台訓練課程。

 訓練課程內容：

項目	內  容
1	TEM模式下之影像、繞射及成分分析: FEI Tecnai™ G2 F-20 S-TWIN FEG-TEM操作步驟說明及實機練習，包含放置及更換試片、基本儀器校準及電子束調整、Gatan Digital Micrograph (DM)影像最佳化及軟體使用、明視野像 (BFI)、暗視野像 (DFI）、高解析原子級影像 (HRTEM)之取得、如何傾斜試片的技巧與擇區繞射圖 (SADP)拍攝及元素定點定性及半定量成分分析。
2	STEM模式下之影像及成分分析: STEM/HAADF影像取得、搭配EDS同步獲取影像和光譜訊號，進行元素全畫面 (full frame)、選區 (selected area)和線掃描 (line scan)分析。

 參加資格:

1. 已取得本校於研究所開設之電子顯微鏡課程學分(上學期: 材料系陳詩芸教授開設之穿透式電子顯微鏡，下學期:機械系周振嘉教授開設之電子顯微鏡擇一)優先考慮。
2. 已有其他TEM機台操作經驗者，可直接向技術員申請考核。
3. 這學期正在修材料系 陳詩芸教授開設之穿透式電子顯微鏡課程者。

 課程費用: 依自行操作基本時段收費。

 報名方式: 請下載機台訓練課程報名表，並經指導教授簽核同意後繳交至E1-142穿透式電子顯微鏡實驗室。

 注意事項:

1. 本訓練課程將依據學生對TEM瞭解程度進行分組。若已具備TEM分析相關經驗，包括所修過的電子顯微鏡課程資料、使用TEM設備經驗、是否具備他校TEM使用執照、正在修相關課程中等，請於報名時詳細說明。
2. 本梯次訓練期預計為3個月，訓練期間需上機至少30小時（約十次），訓練期滿可參加考核，通過者方可取得使用執照，可預約本機台自行操作時段。
3. 取得執照的學生需擔任本機台之助教，協助委託服務，委託時間為一週三小時。
4. 訓練期間若受訓者造成機台損壞，需依規定賠償。

  5.      有任何問題聯絡方式:

                                                          吳盈瑩 小姐 分機7413

                                                          電子郵件(E-mail)：ying22.wu@mail.ntust.edu.tw